快充技術會損害電(dian)池嗎？快充技術剛(gang)出現(xian)的時候就(jiu)有人討論過(guo)這個(ge)問題，因為我們都知道鋰(li)電(dian)池是(shi)個(ge)比較(jiao)敏感的東西，這樣加大(da)電(dian)流，電(dian)壓充電(dian)真(zhen)的沒關系嗎？接下來電源(yuan)適配器廠家就來為大家講(jiang)解一下(xia)吧(ba)。

從原理(li)上來看，電(dian)池(chi)的(de)損害基本上來源(yuan)于兩方(fang)面(mian)：一方(fang)面(mian)是在(zai)(zai)電(dian)池(chi)充放電(dian)的(de)時候，電(dian)池(chi)的(de)陰極與陽極會隨著離子的(de)釋放和(he)(he)吸(xi)收而縮小和(he)(he)膨脹，長時間快(kuai)充會破壞電(dian)池(chi)上的(de)化學物質，導致(zhi)(zhi)電(dian)池(chi)壽(shou)命縮短。另一方(fang)面(mian)在(zai)(zai)快(kuai)充時，由于電(dian)流(liu)的(de)比較(jiao)高(gao)，電(dian)流(liu)的(de)熱效應會加劇，導致(zhi)(zhi)電(dian)池(chi)會產(chan)生高(gao)溫，高(gao)溫也會讓容量驟減和(he)(he)電(dian)芯永(yong)久性損壞的(de)現象。

事實(shi)上，普(pu)通充電(dian)狀態(tai)下其(qi)(qi)實(shi)也會(hui)對電(dian)池造成(cheng)一點(dian)的損(sun)害(hai)，只(zhi)不過這種(zhong)損(sun)害(hai)微(wei)乎其(qi)(qi)微(wei)，需要長達(da)一年甚至以上的時(shi)間才會(hui)在手機上表現出來。所以無論是快充還是普(pu)通充電(dian)其(qi)(qi)實(shi)都(dou)會(hui)對電(dian)池產生(sheng)不可逆的傷害(hai)，只(zhi)不過快充的損(sun)害(hai)稍微(wei)會(hui)比(bi)普(pu)通充電(dian)狀態(tai)要強一點(dian)。但從目(mu)前快充技術的各種(zhong)保障下，這種(zhong)電(dian)池損(sun)害(hai)還是處于安全且合(he)理的狀態(tai)下。

總(zong)的來(lai)說，雖然現在大多數手機(ji)都不可更(geng)換電池，但是我(wo)們(men)手機(ji)的更(geng)換速度(du)也是越來(lai)越頻繁(fan)，所以電源適配器廠家認為(wei)對于目前大多人來(lai)說，這點影響是微乎其微。